В обзоре обсуждается использование метода XAFS-спектроскопии для решения ряда материаловедческих задач.В теоретическом разделе описаны основы теории формирования тонкой структуры в спектрах рентгеновского поглощения, рассмотрено влияние многоэлектронных эффектов и тепловых колебаний решетки на спектры EXAFS. Описаны основные узлы аппаратуры, используемой для исследования спектров XAFS на источниках синхротронного излучения и на лабораторных рентгеновских источниках. Рассмотрены основные методы регистрации спектров XAFS (методика на пропускание, регистрация рентгеновской флуоресценции, регистрация электронного и ионного токов частиц, эмитируемых с поверхности образца). Описаны основные этапы обработки спектров EXAFS на примере спектра, полученного на антимониде индия InSb.
На примере исследования катализаторов показано, какого рода информацию об исследуемом объекте можно получить из исследований протяженной тонкой структуры в спектрах рентгеновского поглощения (EXAFS) и околокраевой тонкой структуры (XANES). Это включает в себя сведения о структуре активного центра и его зарядовом состоянии, расшифровку икосаэдрической структуры гигантских кластеров металлов, изучение биметаллических катализаторов, исследование механизма отравления платиновых катализаторов, изучение механизмов адсорбции молекул на поверхности.
В отдельном разделе обзора рассмотрена новая бурно развивающаяся область XAFS-спектроскопии, связанная с изучением магнитной структуры материалов путем исследования кругового магнитного дихроизма в спектрах рентгеновского поглощения (XMCD). Рассмотрены основы теории этого явления и его применение для исследования магнитного порядка в магнитных сверхрешетках и в сплавах 3d переходных и редкоземельных элементов, а также для исследования магнитной структуры вещества с помощью магнитного EXAFS.